AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
ナノ領域
高分解能AFM・AFM/SPM周辺機器・硬度/ヤング率プロファイル・
X線CTスキャナ・SIMS(二次イオン質量分析法)
- 表面形状をナノメートル分解能で観察できる顕微鏡。
- 表面粗さ、段差、ピッチ計測など定量分析も可能です。
X線CTスキャナ・SIMS(二次イオン質量分析法)
- 表面形状をナノメートル分解能で観察できる顕微鏡。
- 表面粗さ、段差、ピッチ計測など定量分析も可能です。
ナノテクノロジー製品 > ナノインデンター・システム > ISO 14577への準拠
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| ◆ISO 14577とは? なぜISO 14577? その価値は? | ||||||||||||||||||||
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| ◆ISO 14577 Part 1,2,3の完全準拠が必須 | ||||||||||||||||||||
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| ◆ナノテクノロジーの研究および製品開発における前進 | ||||||||||||||||||||
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| ◆ISOの根拠 | ||||||||||||||||||||
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