FE-SEM,AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
 
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したユニークかつパワフルな分析機器をご提供しております。
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  AdvancedTEC プローブ フォースカーブ測定やマニピュレーションに最適  

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AdvancedTECシリーズに、Au・PtIr5をコーティングした特殊プローブ
が加わりました。 詳細は ニュースリリース をご覧下さい。



ナノワールド(NanoWorld)/ナノセンサーズ(NANOSENSORS)社の AdvancedTECTM プローブは、ノンコンタクト、クロースコンタクトモードでの測定に対応しており、 ハンドリング、感度、すばやいスキャンを行う性能を併せ持っています。 帯電を抑えるドープ処理をしたシリコンで作られ、化学的に不活性です。 また、機械的に高いQ値をもち、高い感度を実現しています。 AdvancedTECプローブはチップ部分がカンチレバー先端よりも突出しており、 10~15µmの高さの四面体形状のチップを持ちます。 先端の曲率半径は10nm以下(ティピカル値)です。
AFMヘッドに取り付けたときにカンチレバーが傾斜した場合でさえも
上方から真のチップ位置を視覚的に確認できる世界唯一のプローブ!
プローブを所望の位置に正確に合わせることができます。
サブµm域でチップを接近させることができます。
所望の観察位置
サブµm域でチップを接近
ノンコンタクトモード 高共振周波数タイプ
 
テクニカルデータ レンジ
厚さ [µm] 4.6 3.6~5.6
カンチレバー形状 [µm] W=45
L=160
40~50
150~170
バネ定数 [N/m] 45 12~110
共振周波数 [kHz] 335 210~490
 
ノーマル 数量
ATEC-NC-10 10
ATEC-NC-20 20
ATEC-NC-50 50
コンタクトモード
 
テクニカルデータ レンジ
厚さ [µm] 2.0 1.0~3.0
カンチレバー形状 [µm] W=50
L=450
45~55
440~460
バネ定数 [N/m] 0.2 0.02~0.75
共振周波数 [kHz] 15 7~25
 
ノーマル 数量
ATEC-CONT-10 10
ATEC-CONT-20 20
ATEC-CONT-50 50
フォースモジュレーション
 
テクニカルデータ レンジ
厚さ [µm] 3.0 2.0~4.0
カンチレバー形状 [µm] W=35
L=240
30~40
230~250
バネ定数 [N/m] 2.8 0.7~9.0
共振周波数 [kHz] 85 50~130
 
ノーマル 数量
ATEC-FM-10 10
ATEC-FM-20 20
ATEC-FM-50 50
【仕様】
概要

高分解能測定を可能にするSPM用プローブ
市販のSPMで使用可能
シングルクリスタルシリコン製
ホルダー、チップ、カンチレバーを一体形成
材質
高ドープ、シングルクリスタルSi
帯電を抑えるため、導電性を持つ
低抵抗: 0.01~0.025 Ω・cm
固有の応力がなく安定
温度変化に対しても変形が少ない
液中、電気化学測定にも対応できる化学的に不活性なシリコン
カンチレバー
カンチレバーの断面形状は台形
レーザー合わせがしやすい形状
チップ幅を細くしてダンピングを低減
ホルダー
カンチレバーはシリコンホルダーに固定
ホルダー寸法: 3.4mm×1.6mm×0.3mm
プローブ交換が容易
ホルダーとサンプルの接触を避けるためコーナーをエッチング
チップ
チップ形状は四角錐
カンチレバーの最先端に形成
ハーフコーンアングルは以下の通り
    30~35°(カンチレバー方向)
    20~25°(横方向)
チップの曲率半径は10nm以下
チップ高さは 10~15µm