AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
ナノ領域
高分解能AFM・AFM/SPM周辺機器・硬度/ヤング率プロファイル・
X線CTスキャナ・SIMS(二次イオン質量分析法)
- 表面形状をナノメートル分解能で観察できる顕微鏡。
- 表面粗さ、段差、ピッチ計測など定量分析も可能です。
X線CTスキャナ・SIMS(二次イオン質量分析法)
- 表面形状をナノメートル分解能で観察できる顕微鏡。
- 表面粗さ、段差、ピッチ計測など定量分析も可能です。
ナノテクノロジー製品 > SPM 製品ラインナップ > SPM・AFM用プローブ > Arrowプローブ
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ナノワールド(NanoWorld)/ナノセンサーズ(NANOSENSORS)社の ArrowTM
プローブは、ノンコンタクト、クロースコンタクトモードでの測定に対応しています。
帯電を抑えるドープ処理をしたシリコンで作られています。
化学的にも不活性で、かつ機械的に高いQ値をもち、高い感度を実現しています。
チップは高さ10~15µmの四角錐形状で、先端の曲率半径は10nm以下(ティピカル値)です。
カンチレバーが矢(Arrow)のような形状をしており、 チップはカンチレバーの先端に位置しています。 チップ位置をAFMの光学顕微鏡で確認することができ、 従来のプローブに比べ、サンプルの所望の位置に容易に合わせることができます。 |
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