FE-SEM,AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
 
分析システム営業部では、マイクロスコピック・アナリシスに特化
したユニークかつパワフルな分析機器をご提供しております。
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  PointProbe MFMシリーズ 磁気力顕微鏡モード測定用  
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磁気力顕微鏡（MFM）モードでの測定にはPointProbe(R) MFMシリーズのご使用をお勧めします。チップ面に磁性膜をコーティング、コントラストの高い磁気力イメージを得ることができます。チップ先端の曲率半径は50nm以下、面分解能は100nm以下です。
【テクニカルデータ　MFMシリーズ】
　
ティピカル値
ティピカルレンジ
　厚さ [µm]
3
2.5-3.5
　平均幅 [µm]
28
22.5-32.5
　長さ [µm]
225
220-230
　ばね定数 [N/m]
2.8
1.2-5.5
　共振周波数 [kHz]
75
60-100
* 代表特性表つき　　　# 個別特性表つき

◆ チップ先端の曲率半径はティピカル値50nm以下
◆ 膜厚約40nmのコバルト膜をカンチレバー背面、チップ面にコーティング
◆ 高感度測定のための高いメカニカルＱファクター
◆ 測定前に必ず磁化方向を整えてからご使用下さい

【商品一覧】　　　　　　
■MFMR　　カンチレバー背面にAlコーティング
　　　　　　　チップ面にコバルトコーティング

MFMR-10#
 磁気力測定用､10本/セット
MFMR-20#
 磁気力測定用､20本/セット
MFMR-50
 磁気力測定用､50本/セット
MFMR-W*
 磁気力測定用、380本/ウェハ