AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
東陽テクニカ
ナノテクノロジー製品


生体研究者向け原子間力顕微鏡(AFM)
Agilent 6000 ILM』 発売

ニュースリリースの内容は こちら


 【特長】

NA 0.55 コンデンサレンズに対応
ポイントアンドシュート観察箇所特定
光学-AFMのオーバーレイ機能
ノーノブコンセプト(レーザ調整不要)
磁場ドライブAC(MAC)モード

6月25日の セミナー資料 をご希望の方は、
spm@toyo.co.jp までお申し込み下さい。



新着情報




  • 2010/07/09
  SkyScan社 『Micro-CT User Meeting』 開催 (ベルギー メヘレン市)
7月7日~9日に開催され、40人以上による高い科学レベルのプレゼンテーションが行われました。
プレゼンテーションの様子は こちら から。






  • 2010/07/01
  『高アスペクト比かつ高耐久性を両立するAFMプローブ』 販売開始
独nanotools GmbH 社製の高密度カーボンプローブです。 60nm世代のLSIトレンチ計測からナノラフネスの品質管理生体細胞の高分解能観察にお勧めします。 詳細は、ニュースリリース をご覧下さい。






  • 2010/07/01
  イメージメトロロジー社 SPIP version 5.1.3 リリース   ダウンロード  バージョン履歴
SPIP version 5.1.0以降、評価版ライセンス の仕組みが変わりました。  インストール手順書
匿名ライセンス(10日間)+試用延長(20日間)が、インターネット経由で申請できます。






  • 2010/06/07
  生体研究者向け原子間力顕微鏡(AFM) Agilent 6000 ILMを発売
Agilent 6000 ILMは、倒立型光学顕微鏡と組み合わせてDNAや細胞を生きたまま観察できます。
ニュースリリースの内容は、こちら をご覧下さい。






  • 2009/08/04
  SPIP 新バージョン 『傾きや歪みを持つ基板上の微粒子や微細孔も検出可能』
SPIP version 5.0では、グレイン(粒子)解析モジュールの機能が大幅に強化され、粒子解析手法として一般的なしきい値法とSPIP独自の分岐線法によって、傾きや歪みを持つ基板上の微粒子や微細孔も検出が可能となっています。 ニュースリリースの内容は、こちら をご覧下さい。




セミナー、トレーニング、展示会




  • 2010/08/27
  Agilent 5000シリーズ SPM 『トレーニングコース』 のご案内






  • 2010/08/24
  Nano-R2 SPM 『トレーニングコース』 のご案内






  • 2010/08/01
  NC-AFM2010併設展示会  (石川県立音楽堂)




講習会




講習会の情報はありません。






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AFM・SPM周辺機器




硬度・ヤング率プロファイル





X線CTスキャナ




SIMS(二次イオン質量分析法)