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Nano Indenter G200 |
ISO 14577 Part 1,2,3 完全準拠 |
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| ★概要 |
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| Nano Indenter G200には、各種の押し込みヘッドを取り付けることができます。 2種類の荷重制御機構と高荷重オプションを組み合わせることにより、材料に対して数µN～10Nの範囲の荷重を印加できます。 |
| 測定モードには、準静的モードと動的モードの2種類があります。 |
| 準静的モードでは、最大侵入深さにおける特性を算出し、一つのスチフネス(剛性)データを出力します。 |
| 動的モードでは、データ収録に特許技術の連続剛性試験法（CSM）が用いられ、侵入深さの連続関数として、荷重及び変位データと共にスチフネスデータが得られます。 |
| CSM法により、試験中の各データポイントにおいて、「硬度」と「ヤング率」が得られます。 この手法によって、薄膜、コーティング、その他の表面処理材料の評価に関して、非常に価値のあるデータが得られます。 |
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| ★特長 |
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ISO 14577 Part 1,2,3 完全準拠で測定データ再現性を完全維持 |
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高さ調整機能付きサンプルトレイで、計測スループットを大幅に向上 |
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200mmの移動範囲を持ち、サンプルトレイ全域にアクセス可能 |
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LEDベースのガントリー照明システム |
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サンプル位置とサンプルの試験領域の視認が容易 |
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ポジションフィードバック機能付き光学顕微鏡システム |
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ずば抜けた位置精度を実現 |
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USBインターフェース付き "NanoSwift" コントローラ |
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温度計測センサを装備し、ISO 14577に完全準拠 |
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押し込みヘッド に最適な試験内容をプログラミング可能 |
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印加荷重に最適な 押し込みヘッド を自動的に選択 |
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ラック取り付け型エレクトロニクス・ユニット |
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最新のインターフェースにより、システムのアップグレードが容易 |
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| ★システム構成 |
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電磁コイルベースの荷重制御機構 |
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防振台及び環境の影響を防ぐキャビネット |
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プリマウント型「バーコビッチ」ダイヤモンド圧子 |
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NanoSuite及び解析ソフトウェア |
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マウスコントロールによる自動モーションシステム |
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10倍、40倍の対物レンズ付き、カラーCCD光学顕微鏡 |
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"Analyst" データ解析ソフトウェア |
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全自動データ収録と制御を行う "NanoSwift" コントローラ |
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システムステータスモニタリング及びレポートユーティリティ |
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ラック取り付け型エレクトロニクスアセンブリ |
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PC、LCDディスプレイ |
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| ★システム仕様 |
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標準押し込みヘッド
・ 変位分解能： ＜0.01 nm
・ 全インデンターヘッド移動範囲： 1.5 mm
・ 最大押し込み深さ： ＞500 µm
・ 荷重印加方式： コイル／磁石アセンブリ
・ 変位測定センサ： キャパシタンスゲージ |
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サンプルトレイとステージ
・ 使用可能サンプル面積： 100х100 mm
・ 位置制御： マウスによるリモートコントロール
・ 位置精度： 1 µm |
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荷重レンジ
・ 最大印加可能荷重： 500 mN [標準] (50.8 gm)
・ 高荷重オプション： 10 N (1 kg)
・ DCM-IIヘッド オプション： 30 mN (3 gm)
・ 荷重分解能： 50 nN (5.1 µgm)
・ 接触力： ＜1.0 N
・ ロードフレームのスチフネス： ≒5×106 N/m |
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光学顕微鏡
・ ビデオスクリーン： 25倍
・ 対物レンズ： 10倍, 40倍 |
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