超低荷重インデンター - Nano DCM ヘッド

AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ

ナノ領域

高分解能AFM・AFM/SPM周辺機器・硬度/ヤング率プロファイル・
X線CTスキャナ・SIMS(二次イオン質量分析法)
- 表面形状をナノメートル分解能で観察できる顕微鏡。
- 表面粗さ、段差、ピッチ計測など定量分析も可能です。

押し込み制御分解能 0.0002nm

超低荷重インデンター

Nano DCM ヘッド

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2010年7月16日開催「ナノインデンター技術セミナー」の
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Nano DCM(ダイナミック・コンタクト・モジュール)ヘッドは、荷重－変位試験のレンジを表面接触のレベルまで拡張することができます。 DCMヘッドにより、材料表面への数nmの初期押し込み試験だけでなく、接触直前の力学までも研究することができるようになりました。

★機械的特性評価と Nano DCMヘッド

ナノ・インデンテーション(押し込み)試験は、動的に行わなくては正確かつ広範囲に適用できる結果を得ることはできません。静的あるいは準静的な測定方法は、評価すべき機械的特性の一部しか得られないだけでなく、誤った方向へ導く可能性を一般的に持っています。

Nano DCMヘッドは、超低荷重の機械的特性評価に対応した完全に動的なナノ・インデンテーションシステムです。特許技術の CSM(連続剛性測定法)で測定するとき、DCMヘッドは動的な押し込み試験の恩恵をフルに受けることができます。

★変位分解能

このスケールの測定では、インデンテーション・システムのノイズレベルも考慮しなくてはなりません。
標準的な方法で計算すると、Nano DCMヘッドの変位分解能は 0.0002 nm (0.2 pm) となります。
更に特筆すべきは、実験室環境下ではない製造設備において、ノイズレベルが通常 1Å(0.1 nm)以下のオーダーであるということです。
DCMヘッドは、環境に対して極端に敏感ではなく、市販の他の類似装置と比べてノイズフロアが極めて低くなっています。