FE-SEM,AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
製品情報
展示会・セミナー・トレーニング
技術サポート
会社情報
資料請求・お問い合わせ
─
ナノ/マイクロ領域のイメージングと数値解析
分析システム営業部
では、マイクロスコピック・アナリシスに特化
したユニークかつパワフルな
分析機器
をご提供しております。
FE-SEM
AFM/SPM
CTスキャナ
硬度計
イメージ解析
AFM/SPMプローブ
分析システム トップ
>
高分解能AFM/SPM
>
仕様一覧
仕様一覧
Agilent 5000/6000 シリーズ
5500
5420
5600
6000 ILM
5100
ピエゾスキャナ部
スキャナ構造
バランス
ペンデュラム式
バランス
ペンデュラム式
バランス
ペンデュラム式
バランス
ペンデュラム式
バランス
ペンデュラム式
フォース・センサ
光てこ
光てこ
光てこ
光てこ
光てこ
スキャン方式
プローブ
スキャン
プローブ
スキャン
プローブ
スキャン
プローブ
スキャン
プローブ
スキャン
オープンループ・スキャナ対応
◎
◎
◎
◎
◎
クローズドループ・スキャナ
対応
◎
◎
◎
◎
─
試料ステージ部
試料サイズ
20 mm
66 mm /
75 mm
200mm
(最大 300mm)
20 mm
20 mm
ステージ可動範囲 (X-Y方向)
10 mm
20 mm
200 mm
10 mm
5 mm
ステージ・タイプ
マニュアル
マニュアル
電動
マニュアル
マニュアル
再現性
─
─
500 nm
─
─
ポイント・アンド・シュート
─
─
◎
─
─
液中ステージ
◎
◎
◎
◎
◎
電気化学ステージ
◎
─
─
◎
◎
環境チャンバ
◎
─
─
─
◎
冷却ステージ
(-30℃~室温)
◎
─
─
─
◎
加熱ステージ
(0℃~40℃)
◎
◎
◎
◎
◎
加熱ステージ
(室温~250℃)
◎
◎
◎
◎
◎
イメージング機能
表
面
形
状
コンタクトAFM
(DCモード)
◎
◎
◎
◎
◎
アコースティックAFM
(AACモード)
◎
◎
◎
◎
◎
磁気励振AFM
(
MACモード
・ボトムタイプ)
◎
◎
◎
◎
◎
磁気励振AFM
(
MACモード
・トップタイプ)
◎
◎
◎
◎
◎
トンネル電流 (
STM
)
◎
◎
◎
◎
◎
電
気
特
性
電流マッピング (CS-AFM)
◎
◎
◎
◎
◎
電気力顕微鏡
(EFM)
◎
◎
◎
◎
─
表面電位顕微鏡
(KFM)
◎
◎
◎
◎
─
表面電位顕微鏡 (
SMM
)
◎
◎
◎
◎
─
磁気力顕微鏡
(MFM)
◎
◎
◎
◎
─
インピーダンス (
SMM
)
─
◎
◎
─
─
キャパシタンス
(
SMM
)
─
◎
◎
─
─
dC/dV (SCM)
─
◎
◎
─
─
圧電応答マッピング
(PFM)
◎
◎
◎
◎
─
相
分
離
摩擦力
(LFM)
◎
◎
◎
◎
◎
ダイナミックLFM (DLFM)
◎
◎
◎
◎
◎
粘弾性
(フォースモジュレーション)
◎
◎
◎
◎
─
位相イメージング
◎
◎
◎
◎
◎
ハーモニック位相イメージング
◎
◎
◎
◎
─
力
フォースカーブ
◎
◎
◎
◎
◎
分子認識イメージング
(PicoTREC)
◎
◎
◎
◎
─
環
境
制
御
液中 AFM
◎
◎
◎
◎
◎
液中 STM
◎
◎
◎
◎
◎
電気化学
AFM
◎
◎
◎
◎
◎
電気化学 STM
◎
◎
◎
◎
◎
そ
の
他
ナノリソグラフィ
/ナノマニピュレーション
◎
◎
◎
◎
◎
Q コントロール
◎
◎
◎
◎
─
カンチレバー
バネ定数校正モジュール
◎
◎
◎
◎
◎
※オプションが必要なものもございます。 ご相談下さい。
分析システム トップ
電子顕微鏡
プローブ顕微鏡関連製品
プローブ、カンチレバー
プローブ顕微鏡
SPM 仕様一覧
Agilent 5500
Agilent 5420
Agilent 5600
Agilent 6000 ILM
Agilent 5500 ILM
Agilent 5100
SPMとは?
トレーニングコース
機能ラインナップ
アプリケーションノート
文献 (Bibliography)
カタログ送付請求
メーカー紹介
Agilent Technologies
SkyScan
Fraunhofer Dresden
Scientific Analysis Instruments
Anasys Instruments
NanoWorld / NANOSENSORS
Image Metorology