AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
東陽テクニカ
ナノテクノロジー製品 > SPM 製品ラインナップ > Agilent 高分解能AFM/SPM > ライフサイエンス専用AFM 6000 ILM
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 生きたサンプルを観察できる 
 Agilent 6000 ILM 
 生体研究者向け AFM/SPM 
仕様一覧　機能ラインナップ 
MAC　加熱・冷却　液中観察 
MAC-Ⅲ　SMM　PicoTREC 
Agilent AFM/SPM トップページ ≫ 仕様一覧 ≫ バイオ用AFM 6000 ILM ≫ バイオ用AFM 5500 ILM
◆特長
・倒立型顕微鏡と原子間力顕微鏡(AFM)がコンバイン
  (共焦点レーザ/蛍光/微分干渉/位相差/全反射蛍光)
・ノー・ノブ（No knob）コンセプトによりレーザ調整が不要
・NA 0.55のコンデンサレンズに対応
・ポイント・アンド・シュート 観察箇所高精度特定機能
・低ノイズ 30µm ロングレンジ Z軸機構
・光学顕微鏡－AFMイメージ のオーバーレイ機能
・"Gentleスキャン" 磁場ドライブAC（MAC）モード
・80℃対応 温度調整試料台
・分子間相互作用計測（PicoTREC）
Zeiss社製倒立型光学顕微鏡
に搭載した Agilent 6000 ILM
★概要
Agilent 6000 ILM AFMシステムは、試料の観察手段として生体研究者の方々に最も広く利用されている倒立型顕微鏡に搭載することができます。 倒立型顕微鏡に単に搭載するだけの従来のAFMとは異なり、NA 0.55 コンデンサレンズに対応した機構を持つため、倒立型顕微鏡の性能を最大限に生かしながらAFMを利用することができ、ミリメートルからナノメートルまでの幅広いダイナミックレンジを実現しています。
INKT-TCR分子を修飾してイメージング (3µm視野)
数nm幅のLambde phege DNA (1µm視野)
細胞の表面形状
α GalCer-CD1d箇所の認識マッピング
バッファ液中イメージ
★ポイント・アンド・シュート
倒立型顕微鏡で得られたイメージとAgilent 6000 ILMで得られたイメージを融合する ポイント・アンド・シュート観察箇所高精度特定機能 が標準装備されており、狙った位置の高分解能計測や微小領域の力測定を直感的に行うことが可能となりました。
MyEND細胞
より詳しく観察したい箇所
微分干渉(DIC)イメージ
AFMイメージ
AFM拡大イメージ (40µm視野)
★ノー・ノブ・コンセプト
今まで原子間力顕微鏡(AFM)の使用経験のない方にも手軽にご使用いただけるよう、ノー・ノブ（No knob）コンセプトに基づいて、従来のAFM測定で必須となっていたプローブのレーザ・アライメント調整が業界で初めて不要となり、試料の観察に集中することができるようになりました。
★多彩な生体試料に対応
Agilent 6000 ILMは、30µm以上の高さにも追随できるロングレンジ Z軸機構を搭載しており、生きた細胞などの比較的大きな試料に利用できます。 ロングレンジ Z軸機構を搭載しながらも、ノイズレベルは0.1nmRMSと非常に小さく、DNAやタンパクなどの一分子観察にも利用可能です。
★イメージ・オーバーレイ機能
倒立型顕微鏡のイメージとAgilent 6000 ILMのイメージを重ねて描画する オーバーレイ機能 を備えています。
⇒
HEK293細胞のAFM画像
蛍光顕微鏡像
オーバーレイ表示
AFM鳥瞰図
    ※倒立型顕微鏡： 光学顕微鏡の一種で、対物レンズが観察対象物の下側に位置する顕微鏡を指します。
★多彩な測定機能
Agilent 6000 ILMには、多彩な測定機能が用意されています。
特にAgilent Technology社の特許技術である "磁場ドライブACモード"（MACモード）は、一般的に使用されている機械振動方式と比べて圧倒的なソフト・コンタクトが実現でき、生体試料へのダメージを最小限に抑えることができます。
さらに、PicoTRECモードと呼ばれる革新的な技術が利用できます。 化学修飾を施したプローブを用いて特定の分子認識を2次元可視化する機能で、細胞上の結合サイトの特定や、抗原－抗体反応特性に関する研究に役立ちます。
これらのAgilent Technology社が得意とする生体ナノ計測技術がAgilent 6000 ILMに継承されており、DNA、ウィルス、リポソーム、フェリティン、チューブリン、各種タンパク、脂質膜などから生きた細胞に至る形態観察から、特定の分子を2次元可視化する分子認識まで、高低倍自在に力を発揮します。
エアバブル (4µm視野)
DNAのMACモード・イメージ
AFMを使った分子間相互作用計測（PicoTREC）
◆仕様
 AFMスキャナ・レンジ   100µm (X) × 100µm (Y) × 30µm (Z) 
 ノイズ   0.3nm (X-Y)、 0.1nm (Z) 
 試料搭載   カバースリップ、スライドガラス、シャーレ 
 ステージ範囲   10mm × 8mm （精度： ±2.5µm） 
 光学顕微鏡   Zeiss製 AXIO Observer（A1、D1、Z1）、 オリンパス製 （IX71、IX81） 
 ドライブ振幅   16ビット分解能、0.3mV 
 光学イメージングモード   PH、DIC、TIRF、共焦点レーザ、epiFI、FRET など 
 コンデンサ   Zeiss製 0.55 NA、 オリンパス製 0.5 NA