FE-SEM,AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
 
分析システム営業部では、マイクロスコピック・アナリシスに特化
したユニークかつパワフルな分析機器をご提供しております。
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  5100型 AFM/SPM システム エントリー・モデル  

◆特長
原子スケール分解能
初期導入コストを抑えたエントリー・モデル
アップグレードが容易なモジュラー・デザイン
スタンドアロンAFM/SPMとしても利用可能
プローブ・スキャン方式
多彩なSPMオプション
低ドリフト設計

★概要
Agilent 5100 AFM/SPMシステムは、初期導入コストを抑えたいお客様に最適なエントリー・モデルです。
性能はハイエンド・モデルと同等で、原子・分子分解能を保証しています。
また、刻々と変わるユーザー・ニーズに柔軟に対応できるよう、アップグレードしやすいシステム設計とモジュラー・デザインを採用しています。 大気・溶液・湿度・ガスなどの雰囲気や試料の加熱・冷却などの制御を行いながらAFM/SPM測定を行う環境制御オプションSTMMACモードKFMカレント・イメージングなどのナノイメージング機能も容易に追加することができます。


環境チャンバ、フリップスタンドを装着した 5100 AFM/SPMシステム

★スタンドアロン
5100 AFM/SPMシステムは、スタンドアロンAFM/SPMとしてもご利用いただけます。
スキャナヘッド・サポートスタンドを取り外し、資料にそのまま置いたり、お客様自身で設計したサポートスタンドに取り付けてAFM/SPM測定を行うことが可能となります。


有機単分子層における表面電荷誘発性の秩序-無秩序転移
(スキャンサイズ: 40nm × 40nm)

試料提供: F. Cunba、Nongjian Tao (フロリダ国際大学)