AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
ナノ領域
高分解能AFM・AFM/SPM周辺機器・硬度/ヤング率プロファイル・
X線CTスキャナ・SIMS(二次イオン質量分析法)
- 表面形状をナノメートル分解能で観察できる顕微鏡。
- 表面粗さ、段差、ピッチ計測など定量分析も可能です。
X線CTスキャナ・SIMS(二次イオン質量分析法)
- 表面形状をナノメートル分解能で観察できる顕微鏡。
- 表面粗さ、段差、ピッチ計測など定量分析も可能です。
ナノテクノロジー製品 > SPM 製品ラインナップ > Agilent 高分解能AFM/SPM
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ★Agilentが選ばれる理由 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ★製品ラインナップ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
















