FE-SEM,AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
 
分析システム営業部では、マイクロスコピック・アナリシスに特化
したユニークかつパワフルな分析機器をご提供しております。
分析システム トップ




低加速、コンパクト
Agilent 8500 FE-SEM




多機能・雰囲気制御 SPM
Agilent 5000 シリーズ



新着情報




  • 2011/12/26
  ナノインデンター 「アプリケーションノート」 掲載






  • 2011/12/02
  Agilent 高分解能 AFM/SPM 「アプリケーションノート」 掲載






  • 2011/11/28
  Agilent 8500型 コンパクト FE-SEM 「アプリケーションノート」 掲載






  • 2011/09/20
  イメージ解析ソフトウェア 「SPIP version 5.1.11」 リリース




展示会・セミナー




  • 2012/02/17
  nano tech 2012 シーズ&ニーズセミナー  (東京ビッグサイト)






  • 2012/02/15~17
  nano tech 2012 国際ナノテクノロジー総合展  (東京ビッグサイト)




トレーニングコース




  • 2012/02/21
  Agilent 5000シリーズ SPM 「トレーニングコース」 のご案内






電界放射型 走査型電子顕微鏡




Agilent 高分解能AFM/SPM




AFM・SPM周辺機器




硬度・ヤング率プロファイル





X線CTスキャナ




SIMS(二次イオン質量分析法)