AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
東陽テクニカ
ナノテクノロジー製品

新着情報




  • 2010/02/10
   イメージメトロロジー社 SPIP version 5.0.8 リリース
バージョン履歴は こちら、 トライアル版 および ユーザの皆様 のダウンロードは こちら へ。
SPIPの全機能を1ヶ月間無制限でご試用可能な 評価用フルライセンス もございます。






  • 2009/08/04
  SPIP 新バージョン 『傾きや歪みを持つ基板上の微粒子や微細孔も検出可能』
SPIP version 5.0では、グレイン(粒子)解析モジュールの機能が大幅に強化され、粒子解析手法として一般的なしきい値法とSPIP独自の分岐線法によって、傾きや歪みを持つ基板上の微粒子や微細孔も検出が可能となっています。 ニュースリリースの内容は、こちら をご覧下さい。






  • 2009/04/17
  多機能型プローブ顕微鏡の新モデル Agilent 5420をリリース
マルチパーパスSPMシステム Agilent 5420がリリースされました。
ニュースリリースの内容は、こちら をご覧下さい。






  • 2009/03/31
  『Agilent 5000シリーズ AFM/SPMシステム』 製品紹介ページ 新設
Agilent 5000シリーズ AFM/SPMの 製品紹介ページ が新設されました。
大気・溶液・雰囲気制御・加熱・冷却に対応した 多目的AFM/SPMシステム です。






  • 2009/02/02
  AFMの販売・サービスで米国アジレント・テクノロジーズ・インクと合意
東陽テクニカが、日本国内においてアジレント・テクノロジーズ・インク製AFMを販売・サービスすることで合意しました。 ニュースリリースの内容は、こちら をご覧下さい。




セミナー、トレーニング、展示会




  • 2010/04/20,21
  『AFM/SPMがもたらす分析技術の最先端』 セミナー






  • 2010/03/17
  Nano-R2 SPM 『トレーニングコース』 のご案内






展示会の情報はありません。






Agilent 高分解能AFM/SPM




AFM・SPM周辺機器




硬度・ヤング率プロファイル






X線CTスキャナ




SIMS（二次イオン質量分析法）