東陽テクニカ
電気化学評価
  
リチウムイオン電池、燃料電池、太陽電池等、各種電池の評価から、
有機ELや液晶等の物性評価まで幅広く対応できる計測・評価システムを供給しています。

電気化学測定システム ポテンショ/ガルバノスタット 周波数応答アナライザ(FRA) 測定・解析ソフトウェア
バッテリ・燃料電池評価システム 誘電体測定システム サンプルホルダー・測定用セル 周辺機器/オプション
誘電体測定システム
  1260/1296型
   

新素材や複合材料の開発において、試料の物性を知るためにインピーダンス測定をしようとした場合、従来の測定器(インピーダンスアナライザなど)単体の使用だけでは不充分になりつつあります。
英国ソーラトロン社製1296型誘電率測定インターフェイスは、1260型インピーダンスアナライザや各種周波数応答アナライザと併用して半導体、液晶、誘電材料、有機ELなどの誘電率、tanδ等を超低周波から高周波まで高精度に測定するためのインターフェイスです。通常、インピーダンスアナライザ単体では、計測不可能な|Z|>100MΩの高抵抗サンプルやtanδ<10-2のような低誘電損失のサンプルでも誘電率測定が可能になります。また、温度コントローラをサポートしており温度を可変しての自動測定も可能です。
 
 
  特長
  ● インピーダンス測定範囲:100Ω~100TΩ(1014Ω)
● 測定周波数範囲:10μHz~10MHz
● キャパシタンス測定範囲:1pF~0.1F
● tanδ測定範囲:10-4~103(レファレンスモード)
● 電流計測範囲:1fA~100mA
● 容量のバイアス依存性(C-V測定)
● AC振幅電圧スイープによるインピーダンス測定
● 複素比誘電率の測定(ε′、ε″)
図
 
 
 
用途 Pt/YSZ/Ptのコールコールプロット
粒内、粒界、電極界面が分離して測定されます。
図
 
液晶、高分子などの分子誘電緩和過程、誘電率測定
半導体、有機EL材料、セラミックス中の電荷輸送現象
電解コンデンサ、電気二重層コンデンサの特性評価
非線型な電気的、光学的現象解析
電極界面の現象解析
相転移、結晶化プロセスの物質構造解析
ガス・液体センサの特性評価
 
  測定
  超高抵抗インピーダンス測定
液晶材料及び配向膜のインピーダンス測定
キャパシタ材料の低周波特性
複写機用感光材料のインピーダンス測定
電子ビームレジスト材料のインピーダンス
(半導体リソグラフィー)
 
マイクロフィルム、レーザ記録フィルム
トナー材料のインピーダンス、誘電率測定
その他各種絶縁材料のインピーダンス、誘電率
 
  バイアススィープによるインピーダンス測定
● 各種、半導体-絶縁膜-半導体構造材料の評価、研究
 
  AC振幅電圧スィープによるインピーダンス測定
● 液晶材料の異方性特性
● 各種複合系材料のリニアリティ特性
 
  超低周波から高周波までのインピーダンス測定
● 導電性高分子のインピーダンス測定、誘電率測定
● コンポジットポリマーなど
● 銀イオン等金属イオンのマイグレーション過程の研究、評価
 
  高電圧印加インピーダンス測定
● 高AC電圧印加測定 ~150Vrms
● 高DC電圧印加測定 ~1000VDC
 
 
 
応用分野
 
  セラミックス
セラミックス材料の特性は、分子構造、粒子構造、ド-パントの種類を細かくコントロールすることにより変化します。インピーダンスの測定を行うと、それぞれの要素の周波数応答を解析することが可能となります。また、電気的均一性、電極電解質界面の振る舞い、表面層、強誘電特性、絶縁抵抗及びバルク/粒界効果による抵抗率・導電率・誘電率の温度依存性などの固体誘電体パラメータを解析することも可能となります。
セラミックス電解質燃料電池、固体酸化物形燃料電池
固体電解質電池
固体電解質センサ(イットリウム安定化ジルコニアなど)
セラミック強誘電、圧電特性(ソナー用、自動車アクティブサスペンション用など)
BaTiO3、LiTiO3などの強誘電材料の誘電損失、誘電率に関する研究
セラミック電子部品材料の開発
(トランジスタ、バリスタ、キャパシタ、サーミスタ材料など)
 
高分子材料
高分子材料は非常に多くの分野で利用され、研究開発が行われています。
液晶などの表示素子、プリント基板用の絶縁材、飛行機機体などに使用されるエポキシ樹脂、接着剤などその応用は限りありません。
新材料の開発と評価には、AC振幅、DCバイアス、温度依存性などの多くの条件下での非常に広い範囲のインピーダンス測定レンジがしばしば必要となります。低周波分散などの比較的新しく発見された現象では、10Hzから10mHzといった低周波の測定が必要です。電子またはイオン輸送が電気伝導に多くの寄与をしているイオン伝導性材料等の場合は特に低周波での測定が重要となります。
液晶材料の開発、評価
電線材料の絶縁性評価(誘電損失)
高分子電解質電池
接着剤の開発、評価
ポリエチレン、ポリエステル、エポキシなどの研究(粘弾性、分子整列性の変化の研究)
高分子の構造、相変化、液晶化プロセスなどの物性の研究
PMMAなど半導体レジスト材料
高分子材料測定のアプリケーションノートはこちら
 
その他
誘電体インピーダンス測定装置のユニークな測定能力を利用し、従来測定が困難であった応用分野でお役に立ちます。
高抵抗基板半導体のC-V測定
建設材料の防食塗膜の評価、研究
半導体デバイス用絶縁膜(チッ化シリコン絶縁膜など)
 
ソフトウェア
  一般に使用されるインピーダンスパラメータは|Z|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q等ですが、これらはすべてインピーダンスベクトルR+jXが計測されると全て計算で求めるものです。126096W型ではR+jXを計測し他のパラメータは全てソフトウェア上で演算表示する様になっています。従って計測を一度だけ行なえば全てのパラメータへ何度でも変換が行なえます。
 
  ■SMaRT ソフトウェア  
 
Impedance・画面
インピーダンス測定画面
OS Windows XP/2000/98
コンピュータ DOS/V機
インターフェイス NI社 PCI-GPIB、PCMCIA-GPIB、
GPIB-USB-HS
コントロール機器 1260、1296
340,331(Lake Shore)、ITC503(Oxford)
表示形式 |G|、|Z|、θ、a+jb、C、D、ε′、ε″など
スイープ 周波数、バイアス電圧、AC振幅、温度
 
  ■ZPlot ソフトウェア(オプション)  


 
ZPlot・画面
コールコールプロットの表示及び等
価回路によるデータ解析
OS Windows XP/2000/98
コンピュータ DOS/V機
インターフェイス NI社 PCI-GPIB、PCMCIA-GPIB、
GPIB-USB-HS
コントロール機器 1260
表示形式 |G|、|Z|、θ、a+jb、C、D、ε′、ε″など
スイープ 周波数、バイアス電圧、AC振幅
解析機能 等価回路によるシミュレーション、カーブフィッティング
 
 
1 1260型 インピーダンス(周波数応答)アナライザ
2 1296型 誘電率測定インターフェイス
3 コンピュータ&制御・解析ソフトウェア
4 サンプルホルダ(オプション)
5 クライオスタット(オプション)
 
 
 
 
 
オプション
  Photo  
12962A
室温固体用サンプルホルダ(20mmΦ 電極)
12963A
  12962A用電極キット(10、30、40mmΦ 電極)
12964A
  12962A用液体サンプルホルダ
   

ProboStat
超高温対応電気化学セル (RT~1600℃)

MT-Z
高温加熱炉 (RT~300℃/RT~500℃)
REF-Z、LN-Z
低温クライオスタット (15K~300K、77K~473K)
極低温プローバ ProbeStation(1.5K~475K)
     
  レークショア 331S型温度コントローラ
●2センサ入力、2コントロールループ
●RTD、熱電対をコントロール
 
誘電体評価システム >>> 126096型強誘電体特性評価システム
電気化学測定システム ポテンショ/ガルバノスタット 周波数応答アナライザ(FRA)
測定・解析ソフトウェア バッテリ/燃料電池評価システム 誘電体測定システム(~1014Ω)
サンプルホルダー/測定用セル 周辺機器/オプション