ホール効果測定,比抵抗測定,抵抗測定,ホール測定,ゼーベック測定,熱電能測定
  ホール電圧/比抵抗測定システム
 半導体材料の比抵抗とホール効果を測定し、キャリアタイプ、キャリア濃度、ホール移動度を求める装置です。
ホール効果・比抵抗測定装置Resi Test(レジテスト) > 計測ユニット部







計測ユニット部  

計測ユニット部には6種類のバリエーションがあり、試料の特性に合わせて選択できるようになっています。
試料の電極間抵抗値は最適な計測ユニットを選択する目安になります。

ラインナップ
型式
8308
8308DC
8310
8310DC
8340DC
8350DC
AC磁場
ホール測定
×
×
×
×
DC磁場
ホール測定
デルタ電圧
測定モード
×
×
×
比抵抗
測定範囲※
1E-08Ω
1E+09Ω
1E-08Ω
1E+09Ω
1E-05Ω
1E+09Ω
1E-08Ω
1E+09Ω
1E-08Ω
1E+03Ω
1E-06Ω
1E+03Ω
DC電圧感度
5nV
5nV
10uV
10μV
5nV
1μV
AC電圧感度
1μV

1μV



 ※単位Ωcm試料厚を1μmと仮定した場合

 
特長

8308型
広範囲抵抗サンプル
AC磁場/DC磁場ホール測定
電流反転(デルタモード)
8308DC型
広範囲抵抗サンプル
DC磁場ホール測定
電流反転(デルタモード)
8310型
高抵抗サンプル
AC磁場/DC磁場ホール測定
電流反転

8310DC型
高抵抗サンプル
DC磁場ホール測定
電流反転
8340DC型
低抵抗サンプル
DC磁場ホール測定
電流反転(デルタモード)
8350DC型
中抵抗サンプル
DC磁場ホール測定
電流反転


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