ホール効果測定,比抵抗測定,抵抗測定,ホール測定,ゼーベック測定,熱電能測定
  ホール電圧/比抵抗測定システム
 半導体材料の比抵抗とホール効果を測定し、キャリアタイプ、キャリア濃度、ホール移動度を求める装置です。
ホール効果・比抵抗測定装置Resi Test(レジテスト) > 電磁石部







電磁石部

コンピュータ制御の4象限電源により、磁場強度を自由かつ高速に変化させることが可能です。
さらに低インダクタンスコイルの採用と相まって、交流でも安定した磁場を実現しました。
循環水冷却式コイルにより、長時間安定して強磁場の発生が可能です。
CSE型(水圧増加オプション、LN型搭載例) 

ラインナップ
型式
標準CSE型
導光CSO型
小型C3型
磁場発生方式
電磁石
電磁石
電磁石
最大磁場強度
DC@54mmGAP
0.52T
0.39T
0.4T(GAP:20mm)
最大磁場強度
AC@54mmGAP
0.30T(RMS)
0.25T(RMS)
0.28T(RMS、GAP:20mm)
GAP幅
可変
可変
可変
磁場強度設定
可変
可変
可変
磁極径
75mm
75mm
40mm
磁場均一性
±0.2%/1cm3
±0.2%/1cm3
±0.2%/1cm3

 
特長

標準CSE型
標準タイプ
重量180kg
チラー付き
4象限電源付き
導光CSO型
導光タイプ
重量180kg
チラー付き
4象限電源付き
小型C3型
小型タイプ
重量30kg
小型チラー付き
4象限電源付き


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