ホール効果測定,比抵抗測定,抵抗測定,ホール測定,ゼーベック測定,熱電能測定
  ホール電圧/比抵抗測定システム
 半導体材料の比抵抗とホール効果を測定し、キャリアタイプ、キャリア濃度、ホール移動度を求める装置です。
ホール効果・比抵抗測定装置Resi Test(レジテスト) > 概要







概要  

ResiTest8300シリーズは、東陽テクニカ・オリジナル開発のホール測定システムです。
特許交流磁場によるACホール測定や高速電流反転によるデルタ電圧測定等の最新技術を取り入れて設計しました。
これにより、従来に比べホール電圧の検出限界を飛躍的に高め、測定データの信頼性を著しく改善することに成功しました。
さらに、従来の装置では計測が困難であった低移動度のサンプルをはじめ、広い範囲の抵抗率や移動度の材料のホール測定をカバーできるように、様々なシステ ムバリエーションを用意して、ミニマムコストでユーザー・ニーズに最適なシステムの提供を可能にしました。

コンポーネント
組み合わせ自由な4つのコンポーネントで構成
ResiTest8300シリーズ・ホール測定装置は下図のように、計測ユニット部、制御ユニット部、電磁石部、試料ホルダー部の4つのコンポーネントで構成されています。
ホール測定にはこの4つのコンポーネントが全て必要ですが、各コンポーネントにはそれぞれ複数のバリエーションがあります。
これらのコンポーネントのバリエーションは、測定対象となる材料の物性や研究目的に応じて最適の物を選び、自由に組み合わせて装置を構成する事ができます。
制御ユニット部 計測ユニット部 試料ホルダー部 電磁石部
 システム構成

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