制御ユニット部

ホール効果測定,比抵抗測定,抵抗測定,ホール測定,ゼーベック測定,熱電能測定

ホール電圧/比抵抗測定システム

半導体材料の比抵抗とホール効果を測定し、キャリアタイプ、キャリア濃度、ホール移動度を求める装置です。

ホール効果・比抵抗測定装置Resi Test（レジテスト） > 制御ユニット部

制御ユニット部は、ソフトウェアでホール測定に必要な各種の計測器を自動制御し、それらが読み取った測定値をもとに、比抵抗、キャリア濃度、移動度などの半導体パラメータの算出をおこないます。
新世代半導体材料のホール測定を長年続けてきた東陽テクニカが、その豊富な経験をもとに、測定精度を高めることと、操作性を向上させることに注力して設計しました。

オーミック測定

・	最大100点までの電流スイープ(LOG電流、リニア電流分割)によるI-V測定
・	I-V特性を、表またはグラフで表示

ホール測定

・	AC磁場ホール測定、DC磁場ホール測定を選択可能
・	キャリアタイプ、ホール係数、キャリア濃度、シートキャリア濃度、移動度を表示
・	ノイズ比、ドリフト率、方向依存性を数値で表示し、信頼性と誤差範囲を定量評価
・	AC磁場周波数、プリアンプゲイン、印加電流を試料の抵抗に合わせるオートセットアップ機能

比抵抗測定

・	Van der Pauw法により測定。
・	比抵抗、シート抵抗を表示。

温度調節

・	温度スイープ（最大500点）
・	表またはグラフ表示

ファイル入出力

・	セットアップ、セットアップ＋データをファイルに保存、読み込みが可能
・	CSV形式でのファイルエクスポート

デスクトップ型

・	ソフトウェア
・	GPIBインターフェース
・	デスクトップPC
・	液晶ディスプレー
・	プリンター
・	PCラック

ノートブック型

・	ソフトウェア
・	GPIBインターフェース
・	ノートブックPC
・	プリンター
・	PCラック