霍尔效应・电阻率测量装置

  霍尔电压/电阻率测量系统
测量半导体材料的电阻率和霍尔效应，计算载流子类型、载流子浓度、霍尔迁移率的装置。
ホール効果・比抵抗測定装置Resi Test（レジテスト） > 霍尔效应・电阻率测量装置Resi Test（电阻系数测试仪）
ResiTest8300型是测量半导体材料的电阻率和霍尔效应，判断其材料的载流子类型是电子（N型）还是空穴（P型），计算载流子浓度、霍尔迁移率（移动性）的装置。 Res
iTest8300系列有六种测量单元，可以根据测量对象的特点来作出最为合适的选择。高电阻型中，采用AC磁场的产品能够以与以往相比较高的比率清除在材料和电极的界面上产生的干扰和漂移，所以对于氧化半导体等低迁移率/高电阻样本可以进行有效的测量。另外，低电阻型中搭载有高速电流换向功能（三角模式）可以清除热电势的影响，对与热电材料之类的低电阻，并且易受热电势影响的材料的测量非常有效。
 
製品紹介 可以根据不同目的进行选择的组件构成
概要
■ 概要
■ 系统构成方法
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测量单元
■ 大范围AC/DC磁场型
■ 大范围DC磁场型
■ 高电阻AC/DC磁场型
■ 高电阻DC磁场型
■ 低电阻DC磁场型
■ 中电阻DC磁场型
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控制单元
■ 桌面PC型
■ 移动PC型
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电磁铁
■ 标准型
■ 导光型
■ 小型
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样本保持装置
■ 液态氮77K型
■ 液态氦4.2K型
■ 冷冻机15K型
■ 高温800℃型
■ 室温专用型
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选装
■ 塞贝克系数测量
■ 磁电阻测量
■ 栅极偏压印加测量
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