ホール効果測定,比抵抗測定,抵抗測定,ホール測定,ゼーベック測定,熱電能測定
  ホール電圧/比抵抗測定システム
 半導体材料の比抵抗とホール効果を測定し、キャリアタイプ、キャリア濃度、ホール移動度を求める装置です。
ホール効果・比抵抗測定装置Resi Test（レジテスト）
ResiTest8300型は半導体材料の比抵抗とホール効果を測定し、その材料のキャリアタイプ、キャリア濃度、キャリア移動度を求める装置です。8310型/8308型は、AC磁場法を採用し半導体材料と電極の界面で発生するノイズやドリフトを除去することができるため低移動度/高抵抗試料の測定に威力を発揮します。
また8340DC型/8308型に搭載された高速な電流反転機能（デルタモード）は熱起電力の影響を除去することができ、熱電材料のように低抵抗でかつ熱起電力の影響を受けやすい材料の測定に有効です。  
8400
ユーザー様の声　
　■ResiTest導入事例１　独立行政法人物質・材料研究機構
　■ResiTest導入事例２　東京工業大学 細野・神谷研究室
　
目的に応じて選べるコンポーネント構成
　■ 概要 ■ システム構成の方法  
　■ 広範囲AC/DC磁場モデル
　■ 高抵抗DC磁場モデル		 ■ 広範囲DC磁場モデル
■ 低抵抗DC磁場モデル		 ■ 高抵抗AC/DC磁場モデル
■ 中抵抗DC磁場モデル
　■ デスクトップPCモデル ■ ノートPCモデル  
　■ 標準モデル ■ 導光モデル ■ 小型モデル
　■ 液体窒素77Kモデル
　■ 高温８００℃モデル 		■ 液体ヘリウム4.2Kモデル
■ 室温専用モデル		 ■ 冷凍機15Kモデル
　■ ゼーベック係数測定 ■ 磁気抵抗測定 ■ ゲートバイアス印加測定
 

 新着情報




  • 2011/04/01
  [終了] 2010年度末キャンペーンは終了致しました。






  • 2011/01/28
  英語サイトを開設致しました。






  • 2010/05/17
  中国語サイト開設致しました。






  • 2010/04/01
  [終了] 2009年度末キャンペーンは終了致しました。






新着情報はありません。




セミナー、トレーニング、展示会




  • 2011/12/16
   半導体の基本物性と評価法(入門編)　技術セミナー
詳細とお申込みはこちらから






  • 2011/11/01
   東陽ソリューションフェア2011　開催のご案内
（11/1,2 東京、11/8 大阪、11/10 名古屋）
詳細とお申込みはこちらから






  • 2011/07/15
  低温・磁気セミナーは終了致しました。