ポテンショ/ガルバノスタットを使った電気化学測定なら東陽テクニカ　腐食・防食、バッテリー、燃料電池、センサー等様々なニーズにお応えします。

リチウムイオン電池、燃料電池、太陽電池等、各種電池の評価から、
有機ELや液晶等の物性評価まで幅広く対応できる計測・評価システムを
供給しています。

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走査型プローブによる全く新しいコンセプトの電気化学測定システム370シリーズは、全く新しいコンセプトの走査プローブ型電気化学測定システムです。超高分解能な設計により、電気化学測定および非接触表面形状測定を空間的にアプローチします。
測定テクニックとして以下の6つがあり、使用する機器およびプローブはモジュール構成で、必要なものを自由に選択・追加することが可能です。

370シリーズは、6つのテクニック（SECM、SVET、SKP、LEIS、SDS、OSP）の中からどのテクニックでも選択可能です。また、あとから測定テクニックを追加購入することも可能です。

多くのオプション類が用意されております。例えばプローブ、セル（環境セル TriCell^TM および μTriCell^TM）、長焦点距離ビデオマイクロスコープ（VCAM2）や3次元イメージングソフトウェア（IsoPlot^TM）などがあります。
アプリケーションに合った適切な構成をとることが出来る、370型はユニークでフレキシブルなシステムで、抜群のパフォーマンスを持っています。

■ 製品一覧
SECM370	走査型電気化学顕微鏡システム（SECM、Scanning Electrochemical Microscopy）バイポテンショスタットを用い、酸化還元反応下での局所的情報を直流電気信号で検出します。
SVP370	走査型振動電極システム（SVET、Scanning Vibrating Electrode Technique）電気化学的に活性なサンプル上に発生している電位勾配を非接触で測定します。
SKP370	走査型ケルビンプローブシステム（SKP、Scanning Kelvin Probe）サンプル表面とプローブ間の仕事関数差を測定します。
LEIS370	局所電気化学インピーダンス測定システム（LEIS、Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy）電気化学インピーダンスを局所的に測定します。
SDS370	走査型液滴システム（SDS、Scanning Droplet System）対極および参照極を組み込んだキャピラリから電解液滴を作用極であるサンプル表面へ滴下することで、微小領域でのセルを構成し、電気化学測定を行います。
OSP370	非接触表面プロファイラ（OSP、Non-contact Surface Profiler）レーザープロファイラにより、表面形状プロファイルをマッピングします。またプロファイルデータは他の測定テクニックの使用時に高度情報として利用することができます。
オプション	環境セル、長焦点距離ビデオマイクロスコープ、ソフトウェア