ナノイメージング
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  • 新製品 デモ対応

    テーブルトップ原子間力顕微鏡 TT-2 AFM
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    テーブルトップ原子間力顕微鏡 TT-2 AFM
    AFMWorkshop

    コンパクトなテーブルトップAFM(原子間力顕微鏡)で、低価格ながら光てこ式AFMに求められる重要な機能や利点をすべて有しています。TT-2 AFMには、スキャンに必要となるステージ、制御用回路、プローブ、マニュアル、ビデオ光学顕微鏡のすべてが含まれています。

  • 超高速スキャン原子間力顕微鏡9500 SPM/AFMシステム
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    超高速スキャン原子間力顕微鏡9500 SPM/AFMシステム
    Keysight Technologies, Inc

    9500AFMは、最新のソフトウェア、新しい広帯域デジタルコントローラ、最新の機械設計のシームレスな統合により、フレームあたり2秒の高速スキャンと優れた操作性を実現しています。この新開発のシステムは非常に革新的な原子間力顕微鏡を搭載しているだけでなく、科学者やエンジニアがキーサイト・テクノロジーに求める優れた性能と柔軟性も備えています。

  • 環境制御型7500 AFM/SPMシステム
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    環境制御型7500 AFM/SPMシステム
    Keysight Technologies, Inc

    Keysight 7500 AFMは、ナノスケールの測定、特性評価、機能、汎用性、使いやすさの新しい標準になっています。この次世代のシステムは原子間力顕微鏡の最先端を走り続け、90 μmのクローズドループスキャン原子分解能、業界最高の環境制御、超高精度な温度制御、他の追随を許さない豊富な電気化学機能など、多くの特長を備えています。7500はコンパクトで優れた設計により、サンプルにすばやく簡単にアクセスできます。システムに標準装備されているノーズコーンによって6種類のAFMイメージングモードがサポートされていますが、必要に応じて専用のノーズコーンと簡単に交換できるので、機能も簡単に拡張できます。

  • 5600LS
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    5600LS
    Keysight Technologies, Inc

    5600LS AFM/SPM システムは、使い易さを追及した大型試料対応型 多機能 AFM/SPM システムです。200mm 角の試料ステージには、直径8 インチ、厚さ 30mm の試料を真空固定することができます。また、大型試料だけでなく、液中用試料ステージや、加熱ステージも装着することができるため、半導体、材料科学、生命科学分野などの幅広いアプリケーションで利用可能です。

  • 原子・分子分解能マルチユーザー用Keysight 5500 AFM/SPMシステム
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    原子・分子分解能マルチユーザー用Keysight 5500 AFM/SPMシステム
    Keysight Technologies, Inc

    Keysight 5500は、AFM用高性能マルチユーザー研究システムです。原子スケールの分解能を備えているだけでなく、真のモジュール方式を採用しているため、必要に応じてオプションを追加して機能を拡張できます。また、インテリジェントなデザインにより、多くのイメージングモードや、使いやすいアプリケーション専用のサンプルプレートと簡単に組み合わせることができます。キーサイトの平衡振子方式を採用したトップダウン多目的スキャナー(オープンループとクローズドループ)は、サイズが豊富で、リニアリティと確度が優れています。

  • マイクロ波顕微鏡(SMM) 
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    マイクロ波顕微鏡(SMM) 
    Keysight Technologies, Inc

    従来では測定の困難であった低濃度(1014~1015atoms/cm3)のドーパント測定にも対応します。
     

  • 磁気励振(MAC)モード 
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    磁気励振(MAC)モード 
    Keysight Technologies, Inc

    液中観察を簡便に行うことができます。また生体試料などの柔らかい試料の高分解能観察を実現します。MACモードでは背面に磁性コートを施したプローブにAC磁場を与えることで、針先を直接振動させます。

  • PicoTREC 分子認識イメージングシステム 
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    PicoTREC 分子認識イメージングシステム 
    Keysight Technologies, Inc

    KeysightのPicoTRECは、形状と分子結合現象の検出およびマッピングを、リアルタイムで同時に収集できる初のAFMオプションです。

  • 電気化学AFM/STM 
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    電気化学AFM/STM 
    Keysight Technologies, Inc

    Keysightの電気化学AFM/SPM(EC-SPM)は、in-situ EC-SPM研究(EC-AFMおよびEC-STM)に適した低ノイズ・ポテンショスタット/ガルバノスタット機能が含まれています。

  • ナノパーティクル・フィクスチャ Nano-FIX型
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    ナノパーティクル・フィクスチャ Nano-FIX型

    ナノテクノロジーに関する研究が旺盛な昨今、ナノメートル領域の形状や物性を、大気中・溶液中でオングストロームレベルの分解能で観察・評価できる顕微鏡として、走査型プローブ顕微鏡(以下 SPM)が注目されています。

  • iNano 超高分解能 薄膜機械的特性評価装置
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    iNano 超高分解能 薄膜機械的特性評価装置
    Nanomechanics, Inc.

    iNanoは、極低荷重を高精度かつ安定に発生させるInForce50型押込みヘッドを搭載、ナノメートルオーダーの薄膜や樹脂などのソフトマテリアルの薄膜の硬度・ヤング率を測定できます。さらに動的押込み試験による硬度・ヤング率の深さプロファイル測定やナノスケールの動的粘弾性測定、硬度・ヤング率の3次元イメージングなど、多機能な薄膜機械特性評価装置です。

  • デモ対応

    iMicro 高性能 薄膜機械的特性評価装置
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    iMicro 高性能 薄膜機械的特性評価装置
    Nanomechanics, Inc.

    iMicro 薄膜機械的特性評価装置は、最大1N(約100gf)の荷重を発生できる、マイクロインデンターとナノインデンターの間の領域をカバーする、新しいレンジのナノインデンターです。InForce1000とInForce50の両ヘッドを付け替え可能で、薄膜の機械特性評価に欠かせない、ダイナミックモードやスクラッチ試験、高速3D/4Dマッピング機能まで幅広い機能を装備可能です。

  • デモ・受託分析 対応

    Nano Indenter G200
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    Nano Indenter G200
    Keysight Technologies, Inc

    Nano Indenter G200は、バルク材料やミクロンオーダー厚の薄膜は勿論、従来困難であったサブミクロン厚の薄膜まで硬度・ヤング率評価を高精度で測定可能です。計装化押し込み試験の規格、ISO14577-1,2,3 に完全準拠した、まさに標準機と評価される製品です。高速インデンテーションを用いた硬さ・ヤング率の2次元定量イメージングにも対応します。

  • BioSpec 3T
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    BioSpec 3T
    Bruker Biospin

    BioSpec3Tは臨床用MRIで広く使われている静磁場強度3Tを採用した小動物用MRI装置です。設置スペースはわずか8m2で、液体ヘリウム、液体窒素を使用しませんので、装置の維持管理が容易です。万一の停電時でも最大4時間磁場を保持しますので、無停電電源装置が不要です。

  • デモ・受託分析 対応

    分析用高分解能FE-SEM 【MERLIN】
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    分析用高分解能FE-SEM 【MERLIN】
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    MERLINは圧倒的な低加速電圧・高コントラストの機能に加え、さらなる高分解化を実現したFE-SEM です。最大300nA までの大電流オプションも選べ、高分解能観察からEDS、WDS、EBSD 等の分析まで、モード切替を行うことなく実行できます。

  • デモ・受託分析 対応

    電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM500
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    電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM500
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    GEMINI SEM シリーズは実績のあるGEMINI レンズを進化させたNano-Twin レンズを採用しており、極低加速領域(~ 1kV)での高分解能・高コントラスト化を実現しました。同時に電子の検出効率を最大で20倍改善することで、微小プローブ電流設定時でも高コントラスト・高分解能観察が可能なため、ビームダメージに弱いサンプルにも最適です。また絶縁材料のEDS/EBSD分析に有用な高分解能低真空モードを有しており、様々な用途に対応しています。

  • 電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM300
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    電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM300
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    GEMINI 300は、GEMMINI 500シリーズと同じNano-Twin レンズを採用しており、極低加速領域(~ 1kV)での高分解能・高コントラスト化を実現すると同時に、Carl Zeiss FE-SEMの特徴の一つであるAsB(低角度反射電子検出器)や、低真空条件下での高分解能イメージングを実現するNano-VPなどが装備可能なマルチ・パーパスFE-SEMです。
    コストパフォーマンスもよく、様々な試料に対応しなければならない分析部門に適しています。

  • 電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 500
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    電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 500
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    SIGMA(シグマ)500でも、信号分離を可能するGEMINIレンズを採用しています。前シリーズの上位機種に採用されていたIn-lens DUO(エネルギーを選択型in lens BSE)も搭載可能で、コストを抑えつつも、Carl Zeiss FE-SEMの最大の特徴である画像診断が可能となっています。更に、元素分析を高いスループットで実現するための高立体角EDSポートの設計、14個に上るアクセサリーポート数など、観察だけでなく分析も重要視するユーザに適しています。

  • 電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 300
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    電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 300
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    SIGMA(シグマ)300にも、信号分離を可能するGEMINIレンズを採用しておいます。コストパフォーマンスを追及しつつも、FE-SEMに求められる機能を最大限活かす設計がなされております。
    搭載可能な試料の重量も、最大5kgと汎用SEMと同じ程度の試料が搭載できます。前面の扉を開放しても数分で真空引きからビームスタンバイ状態になりますので、汎用SEMよりもより詳細な観察・分析が必要と考えている方に適したシステムです。

  • 汎用型走査電子顕微鏡 EVOシリーズ
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    汎用型走査電子顕微鏡 EVOシリーズ
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    EVO(エボ)シリーズは、高性能かつ総合的な柔軟性を備えた汎用型走査電子顕微鏡です。タングステンフィラメントやLaB6ソースなどの電子銃の選択だけでなく、低真空度やチャンバーサイズ、検出器など、ニーズに合わせてカスタマイズすることができます。従来機種に比べて、検出器の感度が大幅に向上し、真空度も最大で3000Paまで対応しているため、環境制御下でも高コントラスト像が取得可能です。搭載可能な試料の重量も、最大5kgと汎用SEMと同じ程度の試料が搭載できます。

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