ナノイメージング
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ナノイメージングセンター デモサイト

ナノイメージングセンターデモサイトにある装置一覧です。
各装置での分析をご希望の方は、
各製品の「この製品に関する御問い合わせ」からお問い合わせ下さい。

 
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分析用高分解能FE-SEM 【MERLIN】
Carl Zeiss Microscopy GmbH
MERLINは圧倒的な低加速電圧・高コントラストの機能に加え、さらなる高分解化を実現したFE-SEM です。最大300nA までの大電流オプションも選べ、高分解能観察からEDS、WDS、EBSD 等の分析まで、モード切替を行うことなく実行できます。
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極低加速FE-SEM 【GeminiSEM 500】
Carl Zeiss Microscopy GmbH
GEMINI SEM シリーズは実績のあるGEMINI レンズを進化させたNano-Twin レンズを採用しており、極低加速領域(~ 1kV)での高分解能・高コントラスト化を実現しました。同時に電子の検出効率を大幅に改善することで試料に対するビームダメージの低減に成功しました。さらにさまざまな試料に対応するため低真空条件下での高空間分解能化を実現しています。
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高分解能X 線マイクロCT スキャナ 【SkyScan 1272】
Bruker (microCT)
SKYSCAN1272 は、世界で初めてサンプル交換からスキャン条件の最適化まで、3 次元CT の画像取得に必要な全工程の自動化を実現しました。また、一辺350nm/ ボクセルの高分解能を実現し、かつこの高分解能で、2 億900 万画素という桁外れに広い範囲をスキャンすることが可能です。これより従来は不可能であった、生体試料や複合材料などの10μm 以下の複雑な構造を数cm のサンプル全体にわたり内部の解析が可能となります。
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【高速スキャン対応】Keysight9500 AFM/SPMシステム
Keysight Technologies, Inc
1イメージの取得をわずか2秒で実行する新型AFMは、大気中はもちろん高湿度や加熱/ 冷却など様々な環境制御下での観察に対応しています。このAFMのリリースにより、試料表面のin-situ観察が真の意味で実行できます。例えば加熱によってポリマー材料表面が刻々と変化していく様を数秒という短いタイムスパンでとらえられます。
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超低荷重 薄膜機械特性評価装置 iNano
Nanomechanics, Inc.
極低荷重を高精度かつ安定に発生させるInForce50型押込みヘッドを搭載、ナノメートルオーダーの薄膜や樹脂などのソフトマテリアルの薄膜の硬度・ヤング率を測定できます。さらに動的押込み試験による硬度・ヤング率の深さプロファイル測定やナノスケールの動的粘弾性測定、4Dの硬度・ヤング率マッピングなど、多機能な薄膜機械特性評価装置です。
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Nano Indenter G200
Keysight Technologies, Inc
Nano Indenter G200は、バルク材料やミクロンオーダー厚の薄膜は勿論、従来困難であったサブミクロン厚の薄膜まで硬度・ヤング率評価を高精度で測定可能です。計装化押し込み試験の規格、ISO14577-1,2,3 に完全準拠した、まさに標準機と評価される製品です。
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M4 TORNADO型 イメージングXRF
Bruker (AXS)
M4 TORNADOは最高20μmの空間分解能で高速元素イメージングを実現します。
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