ナノイメージング
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ナノイメージングセンター 受託分析サービスについて

今、ご利用のイメージング機器や分析装置に満足されていますか?

 ● 今使用しているSEMでは、低加速のイメージングが難しい!より最表層を、無蒸着で観察したい!!
 ● イメージングXRFの分析範囲が狭い! 広範囲高分解能解析が遅い!!
 ● 非破壊で数ミクロンの含有物の広範囲分布を確認したい!
 ● 100nmの極表層の硬度が知りたい。硬度・ヤング率の分布(マップ)を見たい!


上記は、弊社が所有する最新のイメージング/分析機器で解決できるご相談の一例です。分析機器の輸出入商社として60年以上の歴史のある(株)東陽テクニカだからできる、最新鋭機器の日本最速導入により、どこよりも早く日本初のイメージデータ/分析データをご提供いたします。  
所有機器は下記となりますが、随時最新の機器導入をいたします。現在、ご利用できる機器の詳細についてはお気軽にお問い合わせください。

お問い合わせ先と分析の流れ
受託分析サービスのご相談、ご注文はから実際のデータ納品までは下記のような流れとなります。
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お問い合わせ→お見積もり→試料送付/ご来所→測定→測定データの納品
受託試験にかかる費用、納期はご希望の測定内容や試料によって異なります。また、ご希望いただいた装置及び測定内容によってお立会いでの測定か試料をお預かりしての測定となります。まずはお見積もりあるいはお打合せの希望を、弊社受託サービス窓口までご連絡ください。
受託対応機器 【イメージング機器】
【走査電子顕微鏡】 MERLIN FE-SEM, GeminiSEM500 FE-SEM
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FE-SEMとしてMERLINとGeminiSEM 500の2機種をご用意しています。両機種ともこれまでの装置を圧倒する数百V以下の極低加速での高コントラストイメージングを実現します。これにより目的の場所を瞬時に見つけて高分解能観察をすることが可能となります。また、さらに感度の増した最新検出器による極低加速での高い組成コントラスト像と、複数検出器による同時観察が試料表面状態の正確な解釈を実現しますSEM に向かないと思われがちなチャージし易い、または電子線ダメージの大きい絶縁体サンプルや磁性材料などのサンプルでも無蒸着で観察が可能です。また、金属の腐食・防食や半導体デバイスを始めとするナノ表面の解析研究を長年行ってきた、慶應義塾大学名誉教授・i-SEM Laboratory代表 清水健一博士によるサンプルメイク、データ解釈などのアドバイスもさせていただきます。
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【X線マイクロCTスキャナ】 SkyScan1272
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SkyScan1272は、世界最高の1600万画素X線カメラによる、最大14,400×14,400ピクセルの超高精細3D-CTスキャンと、最高350nmの高分解能を両立させた広視野高分解能マイクロCTです。また、100kVX線源と独自のノイズ低減技術によりこれまでにない高コントラスト分解能を実現、より近い組成でも識別可能です。
GFRP, CFRPなど各種繊維強化樹脂などの複合材料や不織布、セラミックスなどによる多孔質素材など、10ミクロン以下の構造が数ミリ以上の構造内部に分布する素材の広域構造解析が可能です。

●<5μm~数mmまでの空隙/含有物/添加物/異物の可視化
●試料内部の繊維配向の観察
●試料の空孔解析
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受託対応機器 【物理特性測定/ 分析機器】
【ナノインデンター(薄膜硬度計)】 Nano Indenter G200
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G200 はナノインデンターの測定原理を提唱したW.Oliver氏が直接設計にかかわったインデンターの最新機種で、バルク材料やミクロンオーダー厚の薄膜は勿論、従来のマイクロビッカース等の硬度計では困難であったサブミクロン厚の薄膜まで測定可能な硬度・ヤング率測定装置です。最新技術により素材の深さ方向の硬さのプロファイルや、高速硬度・ヤング率マッピングなどが実現し、従来の点計測ではわからなかった硬さの「分布」を描出できます。
●硬度・ヤング率のISO測定
 (計装化押し込み試験の規格、ISO14577-1,2,3 に完全準拠)
●硬度・ヤング率の『深さ方向』へのプロファイル測定
●硬度・ヤング率のマップ像 - 左図参照
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【イメージングXRF】 M4 TORNADO
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M4 TORNADOは業界唯一のX線ポリキャピラリーレンズ技術により、大光量を維持しながら従来のXRFより約2桁小さい25μm径のX線スポットを実現します。このスポットが、大型ステージ(330mm×170mm×高さ100mm)を有効活用した世界最速の大面積高速元素マッピングを実現します。この基本性能に加えて以下の分析機能を有し、数平方cm以上の広範囲で異物解析/成分分析が可能です。

●元素マッピング像 - 広範囲を高精細にデータ取得できます
 高輝度なX線により左図のような封止樹脂下の金属配線が見えます。
●微小部の点分析 ― 異物分析に有効です
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測定場所:慶應義塾大学理工学部中央試験所・東陽テクニカ産学連携室「ナノイメージングセンター」
受託試験及び立会い試験は、2016年7月20日に慶應義塾大学矢上キャンパス内に開設された「ナノイメージングセンター」にて行います。同施設には、ZEISS製の最新鋭FE-SEMをはじめとする国外各社の最新イメージング/分析機器を導入しております。  
本施設にて、国内初あるいはまだほとんど導入されていない最新最高のイメージング分析機器を手軽にご体験、ご活用していただくことが可能です。
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  (株)東陽テクニカ・慶應義塾大学 ナノイメージングセンターの風景
お問い合わせ先:受託サービス窓口
TEL :03-3245-1239
WEBからお問い合わせの方はこちらから
Mail :bunseki_service@toyo.co.jp

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