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東陽テクニカ製 NCT-100 NANDフラッシュサイクルテスタ 

東陽テクニカ製 NCT-100 NANDフラッシュサイクルテスタ
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東陽テクニカ製NCT-100型NANDフラッシュサイクルテスタ

は、NANDフラッシュメモリ単体での各種コマンド実行、レスポンスタイム測定、耐久試験、不良箇所分析を実現する

小型ファンクションテスタ

です。

特長

ハードウェア:
maru_top2.gifコマンドの高速実行、特性試験、不良検査を実現する性能
・Erase/Read/Programコマンドを最適時間で実行
・レスポンス タイム測定機能  
・書込み/読出し耐久性試験  
・データリテンション耐久性(リードディスターブ)試験  
・エラーログバッファ内蔵(エラーログによる実行時間オーバヘッドを回避)  
・デバイス電源の外部/内部供給切替可能  
・外部電源制御による電圧マージン試験  
・ホストPCとUSBにて接続し制御、監視  
 
maru_top2.gif測定時間例: (参考値)
・SLC、100ブロック分の[イレーズ]-[書込み]- [ベリファイ]の一連
 を1万回実行→5時間~15時間   
* 具体的な対象デバイス、実行時間は別途お問合せ願います。
  
maru_top2.gif温度試験対応
・標準アクティブアダプタにて0-85 ℃まで対応 
・オプションの熱耐性パッシブアダプタにて-20℃から150℃まで対応 
 
PCソフトウェア
・標準でバッドブロック検査やリード、書込み繰返し試験他を用意
・ソフトウェアライブラリにてカスタムテストシーケンスを作成可能
 (オプション)

テクノロジー

東陽テクニカ製NCT-100型NANDフラッシュサイクルテスタでは、
NANDフラッシュメモリ単体での各種コマンド実行、レスポンスタイム測定、耐久試験、不良箇所分析を実現する小型ファンクションテスタです。


NANDフラッシュ組み込み製品、 SSD、NAND/SSD用コントローラ、その他NANDフラッシュ応用製品開発の際、以下の用途で効果を発揮します。
・デバイス採用時、特性/信頼性の評価ツールとして
・エラービットリアルタイム検出、外部トリガ機能にてECCエラー訂正性能の検証
・レスポンスタイム測定による性能測定、劣化傾向の測定
・先天、後発バッドブロックを短時間で判定

従来、単体NANDフラッシュメモリの耐久試験やレスポンスタイム測定は、高価な半導体メーカ向けメモリテスターで行われていました。また、NANDデバイス機能試験と温度環境試験の併用については、有効なスタがありませんでした。 東陽テクニカでは、従来から培ってきたSCSI、ATA /ATAPI アナライザおよびテスター技術をベースに低価格でベンチや恒温槽での使用が可能なNANDフラッシュメモリの書込み寿命、信頼性のテストおよび不良解析を行うサイクルテスタを提供いたします。

用途が展開するSSDにおけるNANDフラッシュメモリ特性試験の重要性
・SSDやSD/MMCカードなどのコントローラ設計段階で使用するフラッシュデバイスのレスポンスタイム特性、耐久性、不良発生傾向の把握に最適です。
・汎用SSD/SD/MMCコントローラとNANDフラッシュを独自に組み込むメーカにおいてもSSD/SD/MMCストレージシステムの性能、信頼性を定義する際に最適です。
・NANDフラッシュメモリを単体で製品に組み込む場合でも事前に特性や耐久性を把握することで製品全体の信頼性を定義することができます。

機能

標準搭載テスト機能
・バッドブロックスキャン(全ブロック)
・書込み/ベリファイ サイクルテスト
・読出し/ベリファイ サイクルテスト
・リードディスターブ サイクルテスト
・リードタイム スキャン
・プログラムタイム スキャン
・イレーズタイム スキャン
・レスポンスタイム スキャン
・メモリデータ内容ダンプ
・データのセーブ
* カスタムスクリプトの定義にて任意のテスト
 手順を実行可能(オプション)

事例紹介

■Erase/Program/Verify Test ログ例:
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2009/04/13-09:38:16 Erase/Program/Verify Test Start
    Device Name:  Samsung K9K8G08
    Device IN  :  20090413-092316
    Socket No  :  1
    Page range :  0-63
    Block range:  0-100, 110-200, 210-500, 2000-2100, 3500-4000
    Chip Select:  1
    Repeat     :  1000
    Options    :  ID-1,B0-1,BF-1.ER-1,VF-1,ES-1,SB-0,TB-0
    Data   :  File-TestData1
    Compare   :  Page & Limit 10  
    Bad Block  : <5> 220(00), 348(F0), 569(00), 812(F0), 1638(00)
2009/04/13-09:39:23 Cycle 105;
2009/04/13-09:44:12 Cycle 327;
2009/04/13-09:47:56 Cycle 383 - Erase Error at B0x314
2009/04/13-09:53:47 Cycle 489 - Verify Error at B0x414/P0x24/0x162 0x5A-0x5E
2009/04/13-09:55:02 Cycle 503 - Program Error at B0x203/P0x39/0x248 0x5A-0x5E
2009/04/13-09:39:23 Cycle 615;
2009/04/13-09:42:32 Cycle 961;
2009/04/13-09:43:26 Test Completed  Error = 3;
2009/04/13-09:43:26 Test Completed  Pass; ß エラー無しの場合
    Time: Total=367.4313s, Erase=148.3189s, Program=89.4765s, Verify=63.9486 
-------------------------------------------------------
 

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