半導体ESD,ラッチアップ,CDM試験,Keytek
比抵抗/ホール測定システム、半導体ESDラッチアップ試験器
半導体物性、超電導をはじめとする各種新材料開発、代替材料開発など最先端デバイス開発に最適な技術エンジニア向けの測定装置を提供しています。
ZAPMASTER Mk.2型
ESD、ラッチアップテストシステム
768ピンまでのESDとラッチアツプテストを1台で実行。
また従来機に比べて5～10倍の高速測定。
しかも1．2m×1．2mしか必要としない省スペース設計！！
ESD、ラッチアップテストシステム
768ピンまでのESDとラッチアツプテストを1台で実行。
また従来機に比べて5～10倍の高速測定。
しかも1．2m×1．2mしか必要としない省スペース設計！！
| － 特長 － | |
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すべてのVerifier、 ZAPmaster用テストフィクスチュアを流用でき、大幅コストダウンに貢献 テストフィクスチュア（128、256、384、512、768ピン） |
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HBM、 MM、ラッチアップが1台で可能 |
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ピン毎に64Kベクター（リードバック付） |
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10MHzまでのベクターレート 内部クロックからプログラムでき、すばやくデバイスを希望のテスト状態にセット可能 |
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6つまでのセパレート V／I サプライ DUTボード端を4線式センシング。これで高確度にDUTパワー、カーブトレース、ラッチアップ・スティミュラス可能 |
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マルチ自己診断ルーチン 全てのリレーマトリックスを通してテストソケットまでシステム完全性の確認が可能 |
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テストリポー卜 プリストレス、プリフェイル（ESD）、ポストフエイルの各データ、フルカーブトレース、特定のデータポイント測定データを、外部データ評価用にエクスポート可能 |
メーカー紹介
