半導体ESD,ラッチアップ,CDM試験,Keytek
  比抵抗/ホール測定システム、半導体ESDラッチアップ試験器
 半導体物性、超電導をはじめとする各種新材料開発、代替材料開発など最先端デバイス開発に最適な技術エンジニア向けの測定装置を提供しています。
ホール効果・比抵抗測定装置
コンポーネント・
リライアビリティテスト
ZAPmaster型　ESDテストシステム

ZAPmaster型は、世界中で最も多くのユーザにお使いいただいており、
ESDテストの標準機として大好評。



－　特長　－
　
すべてのピン、どのデバイスにおいてもいつも同じ波形
簡単にデザインされたテスト手順、すぱやいセットアップ
マルチデバイスを一度にテスト
高速カーブトレース
多項目同時合否判定
簡単にアップグレードできるハードウェアとソフトウェア
将来の要求に応じて簡単にアップグレード