半導体ESD,ラッチアップ,CDM試験,Keytek
  比抵抗/ホール測定システム、半導体ESDラッチアップ試験器
 半導体物性、超電導をはじめとする各種新材料開発、代替材料開発など最先端デバイス開発に最適な技術エンジニア向けの測定装置を提供しています。
ホール効果・比抵抗測定装置
コンポーネント・
リライアビリティテスト
RCDM3型　ロボテックCDMテストシステム

CDMはデバイス帯電モデルです。
デバイスパッケージに帯電した静電気がデバイス自身に放電された時の
現象を忠実にシミュレートし、耐力をテスト。



－　特長　－
　
EOS,　ESD協会の規格及び他の国際規格に適合
非常に少ない寄生インダクタンス・キャパシタンス
パラメトリック・ファンクションテストのためのインターフェース
DUTフィクスチャを容易に交換可能、セットアップ不要
ピンカウント制限なし