物性計測,物性システム,電気特性,磁気特性,誘電特性,電子物性
東陽テクニカ
物性評価システム
  誘電率測定システム
 セラミック、高分子材料の誘電特性、MOS-FETなどの半導体界面の評価、固体/液体電解質の電気伝導率測定などに威力を発揮。
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システム一覧 システム製作例

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半導体および熱電材料　AC磁場ホール測定
・ 測　定 ： 端子間抵抗、比抵抗（体積抵抗率）
キャリヤ濃度、移動度
・ ソース ： 磁場、電流、温度
・ 特　長 ： 交流磁場を利用した高感度な測定
半導体／誘電体　C-V特性
・ 測　定 ： 静電容量の電圧依存、周波数特性
・ ソース ： 交流電圧、温度
・ 特　長 ： 自動温度スイープ測定

強誘電体　分極ヒステリシス／パルス／圧電／焦電特性
・ 測　定 ： 分極ヒステリシス、分極パルス、圧電変位、D-Eヒステリシス、リーク電流、疲労特性
・ ソース ： 三角波、サイン波、パルス、温度
・ 特　長 ： 微少キャパシタの分極測定、微少電圧変位測定、高速な分極現象測定
誘電体　温度可変交流インピーダンス
・ 測　定 ： 導電率、誘電率の温度依存性、周波数特性
・ ソース ： 交流電圧、温度
・ 特　長 ： 温度可変試料ホルダとの組み合わせ
超高インピーダンス対応（～100TΩ）

誘電体　キャパシタンス温度特性

・ 測　定 ： 静電容量の温度依存性
・ ソース ： 交流電圧、温度
・ 特　長 ： 圧電結晶のキュリー点評価
自動測定
誘電体　熱刺激電流TSC測定システム
・ 測　定 ： 微少電流、試料温度勾配
・ ソース ： 温度、初期バイアス電圧
・ 特　長 ： キャパシタ材料の劣化評価
自動測定

半導体／誘電体　DLTS 深い準位のキャリヤ濃度測定
・ 測　定 ： 静電容量の時間依存（C-t）及び温度依存
・ ソース ： 交流電圧、温度
・ 特　長 ： オリジナル高速Cメータ
自動温度スイープ測定
半導体　4探針法抵抗測定システム
・ 測　定 ： 比抵抗の位置依存性
・ ソース ： 電流
・ 特　長 ： ResiTest8300システムとの併用可
試料厚みに応じた補正計算

燃料電池　1600℃SOFC発電特性
・ 測　定 ： 固体酸化物形燃料電池(SOFC)の単セル発電特性試験
・ ソース ： 電圧、電流、交流電圧、交流電流、温度
・ 特　長 ： I-V特性評価、交流インピーダンス測定
ガス雰囲気制御(アノード、カソード独立)
温度自動可変
磁気抵抗材料　温度可変IV特性/磁気抵抗特性
・ 測　定 ： 抵抗の温度及び磁場依存性、時間依存性
・ ソース ： 電流、磁場、温度
・ 特　長 ： CVシステムとの組み合わせ可 　
自動温度磁場スイープ測定 　
自動IV測定

空間磁界分布　磁束密度
・ 測　定 ： 磁束密度の空間分布
・ 特　長 ： 3次元ポジションコントロール
自動測定
電子放出源　ダイヤモンドエミッターIV評価装置
・ 測　定 ： 電流
・ ソース ： 電圧
・ 特　長 ： 自動IV測定

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