物性計測,物性システム,電気特性,磁気特性,誘電特性,電子物性
  誘電率測定システム
 セラミック、高分子材料の誘電特性、MOS-FETなどの半導体界面の評価、固体/液体電解質の電気伝導率測定などに威力を発揮。
 
　半導体材料は現代社会に不可欠な材料であり、太陽電池・パワー半導体など次世代半導体の研究・開発が盛んに行われています。本技術セミナーは半導体の基本物性とその評価法について、独立行政法人 物質・材料研究機構　大橋 直樹　氏 にご講演いただきます。
■講演内容
  講師		 ：
□ 半導体の基本物性と評価法について
＜講師＞ 独立行政法人 物質・材料研究機構　
　　　　　　　　光・電子機能グループ　　大橋 直樹　氏
  (１)　半導体の基礎と典型的な応用
  半導体の導電性や発光特性
(２)　ホール効果測定の原理と実際
  ホール効果測定の原理と装置、測定ノウハウ
(３)　ホール効果以外の評価方法
  ワイドギャップ半導体中の欠陥

　
□ AC磁場を利用したホール測定の利点と測定の実際
＜講師＞ 株式会社 東陽テクニカ　　 山口 政紀
  ・AC磁場法とDC磁場法の違い
・上手なホール測定のポイント
・測定例の紹介

　
 
■開催日時と会場 ：
2011年 12月16日（金）　13：00～17：00
東陽テクニカ　テクノロジーインターフェイスセンター（TIセンター）
　東京都中央区八重洲1-1-6 （案内図）
　（ＪＲ東京駅から徒歩５分）
 
■参加費用 ：
 無料　（事前の受講登録が必要です。）
 
■受講登録 ： 本セミナーの参加申し込みは終了致しました。
 
■機器展示 ：
● 比抵抗/ホール測定システム
● DLTS/ICTS評価システム
● 低温プローバー
● 温度コントローラ
● ガウスメータ
● ロックインアンプ　　等
 
 
　※セミナー内容は一部変更になる場合がございます。
　※会場収容人数の関係で、お客様のご希望に添えない場合がございます。お早めにお申し込みください。
　※競合会社及びその関係者の方々は、お断りさせていただく場合がございます。
　
■お問い合わせ先
　株式会社東陽テクニカ　営業第１部 　（担当：朝倉　浩貴、佐竹　敬子）
　Tel：03-3245-1103　　E-mail : keisoku@toyo.co.jp
　URL： http://www.toyo.co.jp/application_bussei.html