ホール測定システム 半導体材料の比抵抗とホール効果を測定し、キャリアタイプ、キャリア濃度、ホール移動度を求める装置です。
カスタム物性評価システム東陽テクニカでは、半導体物性、誘電物性、低温物性など様々のアプリケーションに適用可能は物性システムをデザインします。
強誘電体特性評価システム強誘電体や圧電体等の分極、 疲労､リーク電流、薄膜/バルクのd33/d31 圧電変位（定数）測定等が行えます。
磁場分布測定システムガウスメータと自動ステージにより3次元空間の磁場分布を予め設定したパターンに従い測定します。
低温センサ20mKからの校正付き酸化ルテニウムセンサ、ダイオード、セルノックス、白金抵抗温度センサを用意しています。
温度モニタ1.4Kから800Kまでの多様なセンサに対応し、全8入力タイプあります。
電磁石/コイルヘルムホルツコイル、電磁石の多彩なラインナップを紹介します。電磁石とガウスメータの組み合わせで簡単に磁場の発生・制御が可能です。
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低温物性システム3.2Kまで冷却能力を持った極低温プローバーシステム。縦方向（2.5T)、横方向（1T）の磁場発生、ロードロック等多彩なオプションを用意しています。
誘電率測定システムセラミック、高分子材料の誘電特性、MOS-FETなどの半導体界面の評価、固体/液体電解質の電気伝導率測定などに威力を発揮します。
ナノ物性評価電流・電位・熱・摩擦力など、試料表面の物性情報をナノメートル分解能で可視化する顕微技術です。
温度コントローラ物理実験用 高性能 温度コントローラ（300mK～）1500K 多様なセンサに対応します。
ロックインアンプ分光測定、低温物性評価、磁気測定、熱伝導測定、走査型プローブ顕微鏡などさまざまな用途での微小信号測定に力を発揮します。
ホールセンサ半導体ホール素子が磁場に比例した電圧を出力するので、その電圧から磁場を換算します。
フラックスメータフラックスメータでは巻いたコイルの内部を通過する磁束量を測定します。
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